Спектрометры тлеющего разряда
GDS900 | GDS950
Спектрометры тлеющего разряда для элементного анализа металлов и профилирования по глубине
Запросить условияИли по телефону +7 (495) 710-38-18
Назначение
Спектрометр тлеющего разряда LECO GDS900 обеспечивает быстрый и точный элементный анализ для рутинного контроля металлов и исследования характеристик поверхности. Прибор разработан для литейных производств, производителей металлов и лабораторий контроля качества и позволяет надёжно определять объёмный химический состав, а также оценивать покрытия и поверхностные слои, включая такие области применения, как цинкование и другие виды металлической обработки.
Современная технология тлеющего разряда и высокоразрешающий ПЗС-детектор обеспечивают быстрое получение результатов и отличную воспроизводимость измерений для широкого спектра металлических материалов.
Для лабораторий, которым требуется более широкая аналитическая гибкость, спектрометр тлеющего разряда LECO GDS950 расширяет возможности анализа благодаря повышенному спектральному разрешению, более широкому диапазону определяемых элементов и расширенной поддержке различных аналитических задач. Двойной источник постоянного и радиочастотного разряда позволяет анализировать как электропроводящие, так и непроводящие материалы, включая покрытия, керамику, стекло и сложные многослойные структуры.
В сочетании с широкими возможностями профилирования по глубине и определения характеристик от поверхности до подложки GDS950 представляет собой мощное решение для сложных научно-исследовательских и опытно-конструкторских задач, а также для анализа современных и перспективных материалов.
Сравнение моделей GDS900 и GDS950
| Характеристика | LECO GDS900 | LECO GDS950 |
|---|---|---|
| Основное назначение | Рутинный элементный анализ металлов и исследование поверхностных слоёв | Расширенный элементный анализ, исследование поверхности и профилирование по глубине |
| Области применения | Литейные производства, предприятия металлургической отрасли, лаборатории контроля качества | Научно-исследовательские и производственные лаборатории, исследования и разработка, анализ современных материалов |
| Типы анализируемых материалов | Электропроводящие металлические материалы | Электропроводящие и непроводящие материалы, включая покрытия, керамику, стекло и многослойные структуры |
| Методы анализа | Анализ объемного химического состава и профилирование состава по глубине | Анализ объемного химического состава, профилирование по глубине и исследование структуры от поверхности до подложки |
| Источник тлеющего разряда | DC — постоянный ток | Двойной источник DC/RF — постоянный и радиочастотный ток |
| Дополнительные возможности | — | Импульсный RF-разряд и использование смешанных плазмообразующих газов |
| Рабочий газ | Аргон | Аргон |
| Размер анализируемой области | Стандартно: 4/14 мм; опционально: 2/14 мм и 2/9 мм | Стандартно: 4/14 мм; опционально: 2/14 мм и 2/9 мм |
| Максимальный размер образца | Диаметр до 8″, толщина до 1,5″ (20,3 × 3,8 см) | Диаметр до 8″, толщина до 1,5″ (20,3 × 3,8 см) |
| Спектральное разрешение | 0,050 нм FWHM; 0,2 нм с дополнительным спектрометрическим модулем | 0,030 нм FWHM; 0,2 нм с дополнительным спектрометрическим модулем |
| Спектральный диапазон | 160–460 нм; 460–850 нм с дополнительным спектрометрическим модулем | 120–460 нм; 460–850 нм с дополнительным спектрометрическим модулем |
| CCD-детекторы | 8 CCD, 16 000 пикселей; дополнительно 2 CCD, 4 000 пикселей | 16 CCD, 32 000 пикселей; дополнительно 2 CCD, 4 000 пикселей |
| Профилирование по глубине | Доступно | Расширенные возможности |
| Анализ покрытий и поверхностных слоёв | Да | Да, включая сложные многослойные структуры |